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| 型號 | D25NC 0°/30° |
|---|---|
| 測量方式 | 非接觸式偵測,可程控轉盤、高速掃瞄5次/測量 |
| 光學系統 | 0°/30°反射式、雙光束回授 |
| 分光接收 | 《密封光學元件》精密光柵分光系統,256點矩陣式矽光接收 |
| 光譜範圍 |
400...700nm 解析度<3nm、帶寬10nm |
| 光度範圍 | 0...150% |
| 再現性 | ?E*≤0.03 (Avg) CIE L*a*b* @標準白板 |
| 偵測區域 |
?25.4mm 距離測口3.5"處、免接觸 |
| 高度偵測 |
物件高度自動補償 可自定測量位置 測量範圍65...140mm 解析度1mm |
| 標準光源 | 全波長發光二極體(LED) |
| 連接埠 | USB2.0/3.0 |
| 電源供應 | 100-240VAC |
| 型號 | D25NC 0°/30° |
|---|---|
| 測量方式 | 非接觸式偵測,可程控轉盤、高速掃瞄5次/測量 |
| 光學系統 | 0°/30°反射式、雙光束回授 |
| 分光接收 | 《密封光學元件》精密光柵分光系統,256點矩陣式矽光接收 |
| 光譜範圍 |
400...700nm 解析度<3nm、帶寬10nm |
| 光度範圍 | 0...150% |
| 再現性 | ?E*≤0.03 (Avg) CIE L*a*b* @標準白板 |
| 偵測區域 |
?25.4mm 距離測口3.5"處、免接觸 |
| 高度偵測 |
物件高度自動補償 可自定測量位置 測量範圍65...140mm 解析度1mm |
| 標準光源 | 全波長發光二極體(LED) |
| 連接埠 | USB2.0/3.0 |
| 電源供應 | 100-240VAC |
